Iijima Y., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Tobita H., Nakamura N., Kikutake R., Daibo M., Nagata M.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Kutami H., Kikutake R., Daibo M., Suzuki R.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Nakamura N., Takemoto T., Kikutake R.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, high rate process, REBCO, IBAD process, PLD process, substrate Ni alloy, fabrication, texture, critical current distribution, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, texture, microstructure, fabrication, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Morita K., Nakamura N.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, IBAD process, high rate process, fabrication, long conductors, texture, critical caracteristics, critical current, length
Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Fukushima H., Ichikawa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, TFA-MOD process, fabrication, YBCO, IBAD process, substrate Hastelloy, critical caracteristics, critical current, composition, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, doping effect, heat treatment, current-voltage characteristics, experimental results, status
Izumi T., Shiohara Y., Sutoh Y., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T., Ichikawa H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, high rate process, deposition setup, reel-to-reel process, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, REBCO, coated conductors multifilamentary, defects
Izumi T., Ito T., Takahashi Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Ichikawa H., HiranoH., Tobita H., Y.Shiohara
Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, fabrication, precursors, high rate process, critical current density
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, growth rate, microstructure, fabrication
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Yamada Y., Sutoh Y., Yajima A., Miura M., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T., Ichikawa Y.
Izumi T., Shiohara Y., Mimura M., Sutoh Y., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T., Ichikawa H.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.